1200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

1000高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

800高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析

600高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析

400高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

200高溫四探針雙電組合電阻率測試儀采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.